ITC55100 半導體測試儀-凯发国际

ITC55100C 型號是最新一代的行業標準系列 ITC55100 測試儀。該系統是圍繞一個非常強大的微控制器設計的，它的時序分辨率為40ns，比前代型號快20倍。其對峰值和零電流的響應時間提高了十倍。結合這一功能，可提高充電和雪崩時間以及報告的峰值排水電流的準確性。

ITC55100C 型號具有雙極柵驅動器作為標準功能。用戶可以設置高達 30V 的總柵極驅動器，并可以選擇 30V 中有多少為正，有多少是負的。此功能可確保某些設備在雪崩期間保持狀態。

ITC55100C 執行符合 MIL-STD-750E 方法 3470 的多種類型的測試。方法 3470 通過強調 P 通道和 N 通道 MOSFET 和 IGBT 到受控能量水平來測試它們的能力。這是通過驅動未夾緊的電感負載的設備實現的。

•單/雙設備測試

• N 通道，P 通道，混合

• 所有固態開關 • 無繼電器

• 40ns 的時序分辨率

• 電流范圍：0.1A 至 200A，0.1A 步長

• 阿瓦蘭奇電壓至 2500V

• 雙極柵驅動，帶 30V 回轉

• 新的高效開爾文電路

• 傳統的 UIL 模式（通過 GPIB）

• 觸摸屏程序輸入/控制

• 波形捕獲/顯示

• 內部測試程序存儲（20 個文件）

• 高速電感充電，縮短測試時間

• 可編程泄漏測試電壓

• 阿瓦蘭切前/后泄漏測試

• 阿瓦蘭奇坍塌測試

• 多功能測試處理程序控制

• 多達 15 個硬件排序箱

• 提高電壓/電流精度

• 通過閃存下載進行軟件更新

• 參數輸入的密碼控制

• 使用所有 ITC 電感負載箱運行

• 與 ITC55MUX4 和 ITC55-RSF 的接口

• 簡單、完整的用戶校準

• 內置自檢